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高溫對 LED 燈具的使用壽命和可靠性影響很大，熱量的集聚會導致LED 芯片溫度過高，損傷 pn 結(jié)，熒光粉也會加速老化，使燈具的整體壽命降低、光效下降。下面，對 LED 球泡燈進行了溫度老化試驗，對 LED 在高溫下加速壽命試驗的數(shù)據(jù)進行整理。
led的球燈泡的高溫老化試驗：
試驗設備：環(huán)儀儀器 led純高溫老化箱
試驗樣品：某型號 LED 球泡燈（日光色，3W，5700k）
失效判據(jù)為：光通量衰減至初值的 90% 作為偽失效標準。
試驗過程：首先測試球泡燈的初始光電參數(shù)，然后將樣品以通電的工作狀態(tài)置于 85℃的溫度加速應力下老化，加速老化總時間約為1250h，期間每隔一定時間測試樣品的光電參數(shù)。
試驗結(jié)果分析：
將高溫應力加速下的燈具樣品光通量進行歸一化處理，其隨時間的變化曲線如下圖所示。
1.經(jīng)過了高溫加速壽命試驗，光通量有了明顯的下降。
2.在試驗剛開始階段，每個燈的光通量都有一定的上升，最高的達到了初始值的 1.06%。這是因為在試驗剛開始的階段，高溫退火，p 型受體被進一步激活，空穴濃度上升，載流子復合概率加大，光輸出增加。
3.試驗中后期，晶格失配位錯，缺陷更大，非輻射復合中心和電子空穴量子隧穿，最終導致光衰減。
4.在試驗結(jié)束的時間，光通量終值比起初值都下降了 20~30lm。
試驗結(jié)論：
利用光功率衰減模型對測試數(shù)據(jù)進行處理，用威布爾分布模型對LED 進行壽命分析，用 MATLAB 進行數(shù)據(jù)擬合可得出 LED 在 85℃應力條件下進行的加速試驗是符合威布爾壽命分布模型。從而可以估算出在溫度為 85℃的應力下，LED 產(chǎn)品的壽命大約為 4546 個小時。
如有LED燈泡的高溫加速壽命試驗研究，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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