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《GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標準的第2部分。
該標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（正弦）綜合環(huán)境下的試驗方法。試驗過程中，應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的設(shè)計和使用要求，確定試驗條件和試驗步驟，包括試驗溫度、低氣壓、振動頻率和振幅等參數(shù)。
一、范圍：
本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗的基本要求，嚴酷等級、試驗程序以及其他技術(shù)細則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(正弦)綜合作用下的貯存、運輸和使用的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。
二、試驗設(shè)備：
四綜合試驗箱
.jpg "《 GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合》標準(圖1)")
三、部分試驗條件：
1.試驗樣品應(yīng)按照試驗程序依次進行試驗室溫度下的振動試驗，溫度試驗和溫度/低氣壓綜合試驗，最后再疊加以振動(正弦)使試驗樣品經(jīng)受溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)的綜合試驗。當試驗樣品已通過單一的振動(正弦)試驗、溫度試驗及溫度/低氣壓綜合試驗時，可直接進行溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)的綜合試驗。
2.在試驗過程中試驗樣品是否處于工作狀態(tài)應(yīng)由有關(guān)規(guī)范規(guī)定。
在試驗過程中，應(yīng)注意試驗裝置的安裝和調(diào)試、試驗參數(shù)的控制和記錄、試驗過程中產(chǎn)生的異常情況的處理等問題。試驗結(jié)束后，應(yīng)對產(chǎn)品進行評定，判斷其是否符合設(shè)計要求和使用要求。
該標準適用于電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗，可用于產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計驗證、生產(chǎn)檢驗等環(huán)節(jié)，也可用于產(chǎn)品質(zhì)量評定和認證等方面。
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