LED的理論壽命超過(guò)lO萬(wàn)小時(shí)，在實(shí)際使用中，大電流、高溫和高濕等都會(huì)產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗(yàn)箱對(duì)其進(jìn)行老化試驗(yàn)箱，從而了解燈具的壽命特征、失效原因和失效模式，對(duì)LED燈具的可靠性設(shè)計(jì)和質(zhì)量改進(jìn)提供依據(jù)。

技術(shù)參數(shù)：

試驗(yàn)原理：

當(dāng)LED燈具工作在高溫高濕的環(huán)境中，容易出現(xiàn)失效性破壞，其中高溫會(huì)加劇濕度對(duì)LED的破壞。濕度場(chǎng)的平衡時(shí)間遠(yuǎn)高于溫度場(chǎng)，雖然濕應(yīng)力相對(duì)熱應(yīng)力較小，但同樣會(huì)對(duì)LED的可靠性造成影響，同時(shí)由于熱應(yīng)力影響燈具的密封性，濕氣可能會(huì)透過(guò)LED路燈的密封膠或其它縫隙進(jìn)入燈具內(nèi)部，造成對(duì)燈具組件的腐蝕以及封裝材料特性的改變，進(jìn)而改變光傳輸途徑，降低光效。

相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和要求：

1AEC-Q 102 之LED的高溫高濕工作壽命

該標(biāo)準(zhǔn)使用高溫度、高濕度以及施加偏置的方法，加速環(huán)境水汽透過(guò)外部保護(hù)材料或沿著外部保護(hù)材料和連接它的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透到器件內(nèi)部，暴露器件可能存在的不足。最常見(jiàn)的高溫高濕條件為雙85，也就是85℃/85%RH。

AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)

車(chē)規(guī)級(jí)LED器件最常見(jiàn)的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)就是由美國(guó)汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC）發(fā)布的AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)（方法參考JESD22-A101D.01）。

其要求LED需在降額曲線中最大電流以及結(jié)溫變化小于3k兩個(gè)要求下進(jìn)行1000小時(shí)的高溫高濕工作壽命，試驗(yàn)中必須監(jiān)控電流電壓，以免過(guò)流導(dǎo)致結(jié)溫過(guò)高燒壞器件。

如有LED高溫高濕可靠性試驗(yàn)箱選型疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。