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SATA/SSD高溫BIT老化柜可以提供SSD的BIT測(cè)試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因?yàn)樵陂L(zhǎng)時(shí)間讀寫(xiě)和高溫環(huán)境下，會(huì)加速芯片老化，可能導(dǎo)致故障提前出現(xiàn)。
BIT（Burn-In Test）測(cè)試就是使用BIT軟件對(duì)固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行循環(huán)寫(xiě)入測(cè)試，再放入高溫箱中靜置。
