為了預(yù)防LED的品質(zhì)問(wèn)題，就要做好焊接封裝元器件失效之品質(zhì)控制，對(duì)LED產(chǎn)品進(jìn)行高溫老化測(cè)試，保證電子產(chǎn)品的可靠性。為了研究LED的高溫應(yīng)力失效分析，我們分析對(duì)led進(jìn)行85℃和120℃的應(yīng)力壽命試驗(yàn)，主要試驗(yàn)內(nèi)容如下。

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 LED燈珠高溫老化箱

評(píng)價(jià)方法：

試驗(yàn)過(guò)程：

1. 85℃壽命試驗(yàn)

由公式( 1) 可知 85 ℃ 下壽命分別為 4318 h、5593 h、7570 h、8630 h、7831 h、5063h，平均壽命為 6501 h; 取 Ea = 0． 5627 eV，根據(jù)公式( 2) 則可推出樣品在 25 ℃下壽命為: 254428 h。

85 ℃條件下光輸出功率隨時(shí)間衰減曲線：

2. 120℃壽命試驗(yàn)

如下圖“20 ℃ 條件下光輸出功率隨時(shí)間衰減曲線”所示，當(dāng)溫度處于 120 ℃ 時(shí)，兩款芯片均迅速失效，由于誤差較大，均無(wú)法正常推算，但就失效速度可知，1028A8 失效速度明顯低于 1028A6。

120 ℃ 條件下光輸出功率隨時(shí)間衰減曲線：

3. 電流應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)

為了消除芯片個(gè)體差異所產(chǎn)生的實(shí)驗(yàn)誤差，故采用分段式電流增加的實(shí)驗(yàn)方法。如下圖，在不同時(shí)間段內(nèi)分別增加電流，判斷不同電流對(duì)兩種芯片的影響差異。

根據(jù)公式( 3 ) 推算，在 2 倍電流情況下1028A6、1028A8 的平均壽命分別為 4110 h、5438 h。如下圖，

兩款芯片的失效時(shí)間比起溫度應(yīng)力條件下的平均壽命 6501 h、7289 h 而言明顯更短，由此可見(jiàn)電流應(yīng)力影響高于溫度應(yīng)力。且采取新型電極結(jié)構(gòu)的1028A8 產(chǎn)品抗電流應(yīng)力壽命明顯優(yōu)于傳統(tǒng)電極結(jié)構(gòu)的 1028A6 產(chǎn)品。

以上就是LED燈珠高溫老化箱對(duì)led的溫度應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)，如有試驗(yàn)疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。