隨著LED芯片功率的不斷增加和LED模塊尺寸的不斷減小，LED模塊在發(fā)光過(guò)程中的產(chǎn)熱量越來(lái)越多，如果不及時(shí)消散，會(huì)嚴(yán)重影響LED模塊的壽命和可靠性，因此，LED模塊的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)已成為出廠前的一項(xiàng)重要檢測(cè)。下面，為大家講解一下LED模塊10K/min速率測(cè)試方法。

LED模塊10K/min速率試驗(yàn)方法：

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 LED模塊快速溫度變化箱

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 24823-2024 普通照明用LED模塊 性能規(guī)范

試驗(yàn)概述：

設(shè)置的試驗(yàn)箱中，施加對(duì)應(yīng)于測(cè)試電壓的標(biāo)稱電流。保證模塊在40℃±10 ℃的試驗(yàn)箱中達(dá)到熱穩(wěn)定以后，試驗(yàn)箱溫度為溫度循環(huán)測(cè)試的最高環(huán)境溫度，最低環(huán)境溫度為該溫度減50℃。這兩個(gè)溫度用于溫度循環(huán)試驗(yàn)。整個(gè)試驗(yàn)循環(huán)250次。

試驗(yàn)過(guò)程：

a).當(dāng)LED模塊工作于最高環(huán)境溫度中達(dá)到穩(wěn)定時(shí)，關(guān)閉LED模塊，并將試驗(yàn)箱內(nèi)環(huán)境溫度以10K/min的速率降到最低測(cè)試溫度;

b).將關(guān)閉狀態(tài)的 LED模塊在最低環(huán)境溫度下保持50min，然后在最低環(huán)境溫度下對(duì)LED模塊進(jìn)行10個(gè)循環(huán)的10s開(kāi)/50s關(guān)的開(kāi)關(guān)試驗(yàn);

c).給模塊通電;

d).以10K/min的速率將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升高到試驗(yàn)箱最高環(huán)境溫度;

e).將通電狀態(tài)的LED模塊在最高環(huán)境溫度下保持50min，然后在最高環(huán)境溫度下對(duì) LED 模塊進(jìn)行10個(gè)循環(huán)的10s開(kāi)/50s關(guān)的開(kāi)關(guān)試驗(yàn);

d).重復(fù)步驟a)~e)249次

合格性:

試驗(yàn)結(jié)束后,在不少于15min的時(shí)間段內(nèi)，所有LED模塊可以正常工作且光通量維持在所明示光通維持率代碼范圍內(nèi)，同時(shí)沒(méi)有溫度循環(huán)所造成的比如開(kāi)裂或標(biāo)志剝離等物理影響。

如有試驗(yàn)疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。