高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)用于組件的溫度測(cè)試，例如汽車零件，傳感器，光纖收發(fā)器，微波設(shè)備，MCM，PCB，以及所有類型的電子/非電子零件和其他測(cè)試物品。設(shè)備可調(diào)溫度-80℃~+225℃，準(zhǔn)確地定位于需要進(jìn)行熱沖擊和溫度循環(huán)測(cè)試的冷熱區(qū)域。

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

在芯片可靠性測(cè)試方面，高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨(dú)特優(yōu)勢(shì): 變溫速率快，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，亦可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度，可針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC，單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試，而不影響周邊其它器件。

功能特點(diǎn)：

1.低能耗設(shè)計(jì), 待機(jī)時(shí)自動(dòng)節(jié)省電力。

2.干燥的空氣吹掃功能, 防止水汽在測(cè)試表面凝結(jié)。

3.通過內(nèi)部制冷機(jī)自動(dòng)除霜, 快速清除高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部積聚的水汽。

4.觸摸屏操作界面，顯示實(shí)時(shí)溫度變化。

5.通訊接口RS485、USB, 支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和導(dǎo)出，可選配其他數(shù)據(jù)接口。

使用方法：

1.將被測(cè)芯片或模塊放置在測(cè)試腔中，將熱流罩壓在測(cè)試腔位置。

2.設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍。

3.啟動(dòng)設(shè)備，利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理， 然后空氣經(jīng)由管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫，氣流通過熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔。熱流罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度。

4. 在芯片測(cè)試平臺(tái)下，設(shè)備快速升降溫至要求的設(shè)定溫度，實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片在設(shè)定溫度下的工作狀態(tài)，對(duì)于產(chǎn)品分析，工藝改進(jìn)以及定向品質(zhì)追溯提供確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù)。

如有高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。