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國家標準:GB/T 26331-2010 光學薄膜元件環(huán)境適應性試驗方法

文章出處 : 相關標準 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 發(fā)表時間 : 2025-03-12

GB/T 26331-2010是中國國家標準,標題為《光學薄膜元件環(huán)境適應性試驗方法》(Test Methods for Environmental Adaptability of Optical Thin Film Components)。

該標準規(guī)定了光學薄膜元件在環(huán)境適應性方面的試驗方法,主要用于評估光學薄膜元件在不同環(huán)境條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。


一、范圍:
本標準規(guī)定了光學薄膜元件的環(huán)境試驗方法、試驗條件、試驗程序及評價標準。
本標準適用于除眼科光學(眼鏡)之外的所有鍍有光學功能薄膜的元件和基片的環(huán)境試驗。
本標準不涉及產(chǎn)品光學性能的檢驗。


二、試驗項目:
高低溫試驗、溫度循環(huán)試驗、濕熱試驗、鹽霧試驗等。


三、試驗設備:
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗箱等。


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《GB/T 26331-2010 光學薄膜元件環(huán)境適應性試驗方法》標準(圖1)


五、試驗程序(部分):

溫度循環(huán)
對試驗箱(室)的要求
試驗箱(室)應滿足下列要求:
a)試驗箱應保證放置試驗樣品的任何區(qū)域的空氣均能按下列方式進行溫度循環(huán):
1)能保持試驗所要求的低溫﹔
2)能保持試驗所要求的高溫﹔
3)由低溫到高溫或由高溫到低溫的變化過程中,能按試驗所要求的溫度變化速率進行。

b)試驗箱(室)內應裝有監(jiān)測溫﹑濕度條件的傳感器。

c)箱內空氣的絕對濕度應不超過20 g/m3水汽(約相當于溫度35℃時,相對濕度50%)。


試驗
將經(jīng)過預處理的樣品放入標準大氣條件的試驗箱(室)內,然后將試驗箱(室)的溫度降至試驗要求的溫度下限,保持一定時間后再升溫至試驗要求的溫度上限,再保持一定時間后返回標準大氣條件下的室溫,至此一個循環(huán)周期結束。
每個周期中最高溫度和最低溫度保持時間均不少于2.5 h,兩個周期之間溫度連續(xù)變化。試驗從溫度下降開始計時,所有周期結束后,溫度恢復到標準大氣條件下保持10 min后試驗結束,如圖1所示?;虬碔SO 9022-2:2002中 4.3.2的規(guī)定進行。
相關規(guī)范應規(guī)定由試驗溫度和試驗循環(huán)次數(shù)表示的嚴酷等級,具體數(shù)值從表3中選擇。


《GB/T 26331-2010 光學薄膜元件環(huán)境適應性試驗方法》標準(圖2)


通過遵循GB/T 26331-2010標準進行環(huán)境適應性試驗,可以評估光學薄膜元件在不同環(huán)境條件下的性能表現(xiàn),以指導產(chǎn)品的設計、制造和應用。這有助于確保光學薄膜元件在實際使用中的可靠性和穩(wěn)定性,提高產(chǎn)品的質量和可信度。

文章標簽 : 國家標準

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