GB/T 18239-2000 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)題為《集成電路(IC)卡讀寫機(jī)通用規(guī)范》（General Specification for Integrated Circuit (IC) Card Reader-Writer）。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路卡讀寫機(jī)的技術(shù)要求和測(cè)試方法，以確保這種類型的設(shè)備在讀寫集成電路卡（通常稱為IC卡或智能卡）時(shí)具有一定的性能和可靠性。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路(IC)卡讀寫機(jī)(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則、以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于IC卡讀寫機(jī)產(chǎn)品。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
高低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、跌落試驗(yàn)機(jī)等。

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五、試驗(yàn)程序（部分）：

工作溫度下限試驗(yàn)

按GB/T 2423.1中試驗(yàn)Ab進(jìn)行。(允許用非保溫性物品將產(chǎn)品包裹或密封，以防產(chǎn)品結(jié)霜、凝水。)按表1要求的工作溫度上限值加電運(yùn)行檢查程序，產(chǎn)品應(yīng)正常工作。

貯運(yùn)溫度下限試驗(yàn)

將產(chǎn)品放在恒溫箱中，按表1要求將溫度下降到貯運(yùn)溫度下限，恒溫16 h，然后恢復(fù)到常溫，恢復(fù)時(shí)間2h，再進(jìn)行檢測(cè)應(yīng)能正常工作。
按表1要求的工作溫度下限值加電運(yùn)行檢查程序，產(chǎn)品應(yīng)正常工作。

工作溫度上限試驗(yàn)
按GB/T 2423.2中試驗(yàn)Bd進(jìn)行。

貯運(yùn)溫度上限試驗(yàn)

將產(chǎn)品放在恒溫箱中，把溫度升高到表1要求的貯運(yùn)溫度的上限，恒溫16 h，然后恢復(fù)到常溫，恢復(fù)時(shí)間2h，再進(jìn)行檢測(cè)應(yīng)能正常工作。

通過遵循 GB/T 18239-2000 標(biāo)準(zhǔn)，制造商可以生產(chǎn)符合要求的集成電路卡讀寫機(jī)，以確保其在讀寫IC卡時(shí)具有可靠的性能。這些設(shè)備廣泛用于各種應(yīng)用領(lǐng)域，如金融、身份驗(yàn)證、門禁控制、交通卡等。同時(shí)，該標(biāo)準(zhǔn)也為用戶和相關(guān)機(jī)構(gòu)提供了技術(shù)依據(jù)，以選擇和使用適合其需求的集成電路卡讀寫機(jī)。