《GB/T 12085.6-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第6部分:砂塵》是中國國家標準,屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規(guī)定了在實驗室條件下進行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的環(huán)境試驗,特別是針對砂塵環(huán)境的試驗方法。
一、范圍:
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)砂塵的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器,包括來自其他領(lǐng)域的組件(如機械、化學(xué)和電子設(shè)備)的砂塵試驗。
本文件不適用于對粗粒砂塵耐磨性的試驗。
二、試驗項目:
砂塵試驗。
三、試驗設(shè)備:
砂塵試驗箱(室)等。
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五、試驗程序(部分):
每次試驗應(yīng)使用新的砂塵。試樣應(yīng)盡可能放在試驗箱(室)中心附近,如多個試樣同時試驗時﹐試樣的位置均應(yīng)與空氣流動方向垂直,并且試樣之間以及試樣與試驗箱(室)壁的距離均大于100 mm,試樣的安置應(yīng)使最易損表面朝著噴塵。在試驗期間試樣的位置可重新定位,以便將各個不同的表面暴露于空氣流,在有關(guān)標準中應(yīng)規(guī)定對空氣流暴露的試樣表面的位置和數(shù)量,暴露周期應(yīng)均勻分配給每一暴露面。
該標準的主要目的是評估光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在砂塵環(huán)境下的性能和可靠性。在一些應(yīng)用場合,如沙漠地區(qū)或含塵環(huán)境下,光學(xué)設(shè)備可能需要在惡劣條件下工作。通過進行砂塵環(huán)境試驗,可以確定設(shè)備的抗砂塵性能,以確保其在實際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。這對于軍事、航空航天、油田等領(lǐng)域的設(shè)備尤為重要。